サムテックでは、誘電体電子材料の測定用ソフトウェアの研究開発と販売を行っております。リース契約による測定用ソフトウェアの提供のご相談にも応じます。

Overview of SUM Series Measurement Systems

誘電体材料の計測ソフトウェア製品
[SUMシリーズ]

1. SUM-DISK
[ストリップライン励振形の平衡形円板共振器を用いる測定について、JPCA-FCL01(2006)規格、JFIA-FP001(2006)規格 対応]

マイクロ波とミリ波帯における、誘電体平板試料の垂直(厚さ)方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。プリント回路基板のマイクロストリップ構造の設計に不可欠な垂直方向(厚さ方向)の比誘電率を正確に測定するのに力を発揮します。
スマートフォン・携帯用のUHF帯から車載ミリ波センサ用のEHF帯まで、幅広い周波数レンジのプリント回路基板の測定を実現します。
[測定法 : 平衡形円板共振器法]

  1. 測定範囲・測定精度
    • 周波数f : 5GHz-110GHz
    • 比誘電率εrn : 1.1 - 10, ±(1 - 5)%
    • 誘電正接 tanδn : 10-2 - 10-4, ±(10 - 30)%
  2. 平衡形円板共振器に用いる試料の必要寸法
  3. 測定
    周波数
    円形銅箔の
    直径
    試料の厚さ 試料の寸法
    5GHz - 67GHz 30mmΦ < 0.79mm 50mm×50mm
    10GHz - 110GHz 15mmΦ < 0.47mm 50mm×50mm

    ※ 試料の厚さは、εrn=2 の時の例です。

  4. 平衡形円板共振器の外観 [5GHz-110GHz測定用]
  5. Overview of the Disk Cavity #1   Overview of the Disk Cavity #2

  6. 平衡形円板共振器の外観 [1GHz-10GHz測定用]
    [製品化するまでに、開発中となります。]
  7. Overview of the Disk Cavity #3

2. SUM-PLATE Ver. 8.0
[JIS R 1641(2007)規格、IEC 62562(2009)規格 対応]

マイクロ波帯における、誘電体平板試料の面方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。
[測定法 : 空洞共振器法]

  1. 測定範囲・測定精度
    • 周波数f : 2GHz-40GHz
    • 比誘電率εrt : 1.1 - 50, ±(0.2 - 0.5)%
    • 誘電正接 tanδt : 10-3 - 10-6, ±(2 - 10)%
  2. 空洞共振器のラインナップ・円板試料の必要寸法
  3. 測定用円筒空洞共振器は、異なる共振周波数ごとに対応しています。

    測定用円筒空洞 試料の直径(mm) 試料の厚さ(mm)
    3GHz空洞 170 - 175 < 14
    6GHz空洞 85 - 105 < 7
    9GHz空洞 56 - 83 < 4.7
    12GHz空洞 43 - 64 < 3.5
    18GHz空洞 30 - 55 < 2.5
    24GHz空洞 22 - 52 < 1.8
    33GHz空洞 16 - 49 < 1.3

    ※ 円板試料のみならず、方形試料でも測定可能。

  4. 円筒空洞共振器の外観
  5. Overview of the Plate Cavity #1   Overview of the Plate Cavity #2

3. SUM-CYLINDER Ver. 2.0
[JIS R 1660-1(2004)規格、IEC 61338-1-4(2005)規格 対応]

ミリ波帯における、誘電体平板試料の面方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。
[測定法 : 遮断円筒導波管法]

  1. 測定範囲・測定精度
    • 周波数f : 30GHz-100GHz
    • 比誘電率εrt : 2.0-50, ±(0.2 - 1.0)%
    • 誘電正接 tanδt : 10-3 - 10-6, ±(2 - 10)%
  2. 遮断円筒導波管共振器のラインナップ・試料の必要寸法
  3. 遮断円筒導波管共振器は、異なる共振周波数ごとに対応しています。

    測定用共振器 試料の直径(mm) 試料の厚さ(mm)
    33GHz共振器 14 - 23 < 1.5
    36GHz共振器 13 - 23 < 1.3
    50GHz共振器 9 - 20 < 1.0
    60GHz共振器 8 - 20 < 1.0
    80GHz共振器 6 - 18 < 0.5

  4. 遮断円筒導波管共振器の外観
  5. Overview of the Cylinder Cavity

4. SUM-ROD Ver. 7.0
[JIS R 1627(1996)規格、IEC 61338-1-3(1999)規格 対応]

マイクロ波帯における、誘電体円柱試料の円周方向の複素比誘電率および導体平板の表面抵抗・表面比導電率を測定するためのソフトウェアです。
[測定法 : 2誘電体円柱共振器法,2サファイア円柱共振器法]

  1. 測定範囲・測定精度
    • 周波数f : 2GHz-30GHz
    • 比誘電率εr : 2-1000, ±(0.2 - 0.5)%
    • 誘電正接 tanδr : 10-3 - 10-7, ±(5 - 20)%
    • 表面比導電率 σrf : 10 - 100%, ±(2 - 10)%
  2. 導体平板の必要寸法
  3. 測定周波数 円板直径(mm)
    5GHz - 30GHz 40mmΦ
    2GHz - 15GHz 70mmΦ

    ※ εr=38 の時の例です。

  4. 誘電体円柱共振器のラインナップ外観
  5. 円柱共振器は、異なる共振周波数ごとに対応しています。ご注文いただいたニーズに応じて、円柱共振器を製作致します。

    Overview of the Rod Cavities Lineup

    Overview of the Rod Cavity #1   Overview of the Saphire Rod Cavity #2

      セラミック円柱共振器       サファイア円柱共振器

  6. 測定治具の外観
  7. Overview of the Rod JIG

5. SUM-TM0m0 Ver. 1.0

マイクロ波帯における、誘電体丸棒試料の軸方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。
[測定法 : TM0m0空洞共振器を用いた摂動法]

  1. 測定範囲・測定精度
    • 周波数f : 1GHz-30GHz
    • 比誘電率εrn : 1.1-100, ±(1 - 5%)
    • 誘電正接 tanδn : 10-2 - 10-5, ±(10 - 30)%

    ※ 測定モードにTM010モードを使用した場合のデータとなります。

  2. TM0m0円筒空洞共振器のラインナップ・丸棒試料の必要寸法
  3. 円筒空洞共振器は、異なる測定周波数帯ごとに、
    合計3種類用意致しました。

    円筒空洞の種類 3GHz空洞 4.5GHz空洞 8GHz空洞
    TM010モード 3GHz 4.5GHz 8GHz
    TM020モード 6.9GHz 10GHz 18GHz
    TM030モード 10.8GHz 16GHz 29GHz
    TM040モード 14.7GHz - -

    ※ 丸棒試料の必要寸法は、直径d1は3mm以下、長さは50mm以上です。
    お客様のニーズに応じて、1GHz、2GHz 空洞等もご用意致します。

  4. TM0m0円筒空洞共振器の外観
  5. Overview of the TM0m0 Cavity #1   Overview of the TM0m0 Cavity #2

 

SUMシリーズの必要PC動作環境

 

CPU Intel Pentium 4 (1.5GHz) 以上
OS Microsoft Windows 7, Windows Vista, Windows XP または Windows 2000
メモリ 512MB以上のRAM
【Windows XP】
2GB以上のRAM
【Windows 7 / Vista】
ハードディスク 1.5GB以上の空き容量
【Windows XP】
20GB以上の空き容量
【Windows 7 / Vista】
ディスク装置 CD-ROMドライブ
ディスプレイ 1024dpi× 768dpi 以上の画面解像度
ネットワークアナライザ ・自動測定モード: アジレント・テクノロジー製(PNAシリーズ・8510シリーズ・8720シリーズ・スカラーネットワークアナライザ8757シリーズ)
・手入力モード:市販されている全てのネットワークアナライザに対応しています。
その他 ・USBポート(暗号鍵ファイル用メモリスティックに使用)
・ナショナルインスツルメンツ製 NI GPIB-USB-HS 接続ケーブル と (※) 同軸ケーブル

※ 使用する同軸ケーブルの種類は、測定する周波数帯によって異なります。