誘電体円柱共振器法とは？

円柱状誘電体試料を測定するための誘電体円柱共振器法は国内規格JIS R1627(1996)および国際規格IEC61338-1-3(1999)に制定されています。
2誘電体円柱共振器法は1996年にJISR1627、1999年にIEC61788-7としてそれぞれ制定されました。
本法は直径が等しい2つの誘電体円柱を用いることにより、円柱のtand と導体板のR_s を高精度に分離測定することができます。
下図に示すようにTE₀₁₁モード用円柱は長さL₁を持ち、TE₀₁₃モード用円柱は長さL₃=3L₁を持ちます。円柱のe_r は各共振器のf₀の測定値より求められます。
また、二つの円柱のtand が等しいと仮定することにより、両共振器のQ_u の測定値からtand およびR_s を求められます。

2誘電体円柱共振器法は、(Zr, Sn)TiO₄セラミック円柱を用いることによりHTSバルクのR_s 測定にも応用されました。
しかし、10GHzにおいてR_s =0.1mW 以下のHTS薄膜が開発されると、薄膜に比べ円柱の損失が大きくなるためセラミック円柱の代わりに
低損失サファイア円柱が用いられるようになりました。この方法は2サファイア円柱共振器を呼ばれています。2001年IEC61788-7として制定されました。