サムテックのマイクロ波材料測定事業とは？

弊社は、誘電体材料測定用ソフトウェアの販売またはリースと共に、各種ニーズにマッチした産業用および新材料開発用の誘電体の測定依頼も承ります。
ご希望の誘電体材料の平面方向・垂直方向の複素比誘電率、導体板や銅箔等の表面抵抗および実効導電率、
誘電体と導体の界面抵抗および実効導電率を高精度に測定いたします。さらに、これらの周波数依存性や温度依存性および湿度依存性の評価も行います。
また、測定したデータを御用意いただければ、弊社で厳密な電磁界解析により測定結果を算出します。
他にも、実務的な見地からの測定結果に関してのコンサルタントも提供しております。

事業内容

マイクロ波・ミリ波帯における、電子材料測定用ソフトウェアの研究開発、販売・リースおよび保守サービス

マイクロ波・ミリ波帯における、電子材料測定用システムの研究開発、販売・リースおよび保守サービス

マイクロ波・ミリ波帯における、電子材料の特性測定および性能試験評価サービス

マイクロ波・ミリ波帯における、電子材料測定の技術コンサルティングサービス

当事業を担当する責任者のプロフィール

サムテックマイクロ波測定事業部長小林禧夫

マイクロ波材料測定事業部代表小林　禧夫とは？

ＲＦワールド No.12, 2010年11月号（ＣＱ出版）特集記事 PDFファイルアイコン

製品の紹介

SUM-DISK _{[ストリップライン励振形の平衡形円板共振器を用いる測定について、JPCA-FCL01(2006)規格、JFIA-FP001(2006)規格対応]}

マイクロ波とミリ波帯【1GHz - 110GHz】における、誘電体平板試料の垂直（厚さ）方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。
プリント回路基板のマイクロストリップ構造の設計に不可欠な垂直方向（厚さ方向）の比誘電率を正確に測定するのに力を発揮します。
スマートフォン・携帯用のUHF帯から車載ミリ波センサ用のEHF帯まで、幅広い周波数レンジのプリント回路基板の測定を実現します。

SUM-PLATE Ver. 8.0 _{[JIS R 1641(2007)規格、IEC 62562(2009)規格対応]}

マイクロ波帯【2GHz - 40GHz】における、誘電体平板試料の面方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。

SUM-CYLINDER Ver. 2.0 _{[JIS R 1660-1(2004)規格、IEC 61338-1-4(2005)規格対応]}

ミリ波帯【30GHz - 100GHz】における、誘電体平板試料の面方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。

SUM-ROD Ver. 7.0 _{[JIS R 1627(1996)規格、IEC 61338-1-3(1999)規格対応]}

マイクロ波帯【2GHz - 30GHz】における、誘電体円柱試料の円周方向の複素比誘電率および導体平板の表面抵抗・表面比導電率を測定するための
ソフトウェアです。

SUM-TM0m0 Ver. 1.0

マイクロ波帯【1GHz - 30GHz】における、誘電体丸棒試料の軸方向の複素比誘電率を測定するためのソフトウェアです。

SUM-MIC

マイクロ波帯における、銅張誘電体基板の界面比導電率を測定するためのソフトウェアです。

誘電体材料の測定サービスの紹介

弊社では、お客様よりお送りいただいた材料の測定を行い、材料の各種性能評価を承ります。

誘電体平板の平面方向の複素比誘電率（比誘電率および誘電正接）の測定
誘電体平板の垂直方向の複素比誘電率（比誘電率および誘電正接）の測定
導体平板の表面抵抗および実効比導電率の測定
誘電体と導体の界面抵抗および実効比導電率の測定
誘電体丸棒の複素比誘電率（比誘電率および誘電正接）の測定
液状誘電体の複素比誘電率（比誘電率および誘電正接）の測定
周波数依存性の評価
温度依存性の評価
湿度依存性（２０℃常温および温度可変条件における）の評価

弊社の測定サービスは、特に誘電体材料の温度依存性・湿度依存性の測定を「厳密解析」に基づいて高精度に行える点と、
測定精度を、個々の試料名毎に明確に評価ができる点を特長としております。
誘電率測定における温度依存性評価の概要については、以下のリンクより動画でご覧下さい。

複素比誘電率の温度依存性を自動的に測定する。（Windows Media Player [wmv] 形式)

誘電体材料の計算サービスの紹介

弊社では、既にお客様側でアジレント・テクノロジー社製またはアンリツ社製などのネットワークアナライザーをお持ちであれば、
弊社の測定ソフトをご購入いただくことなく複素比誘電率を正確に計算して差し上げます。
下記のEXCELデータ入力フォームをダウンロードいただき、
お客様側で弊社指定の測定治具（川島製作所製）を使用して取得した測定データを入力し、弊社宛に添付メールでお送り下さい。
お送りいただいた測定データ（共振周波数および無負荷Q）に基づいて、複素比誘電率を計算して報告差し上げます。
尚、周波数依存性の評価をご希望の場合は、マルチモード用データ入力フォームに入力してお送りください。

参考目安価格：

川島製作所製の測定治具を新たにご購入いただく場合	測定治具一式＝５０万円〜１００万円程度＋材料測定１点＝１万円程度
既に弊社を通じて、川島製作所製の測定治具をお持ちの場合	材料測定１点＝１万円程度

測定ご依頼入力フォーム（SUM-PLATE用）
TE011用マルチモード用　
測定ご依頼入力フォーム（SUM-DISK用）
TM010用マルチモード用

尚、本製品・本サービスにご興味・ご関心がございましたり、価格についてお知りになりたい、もしくはリースでの賃借をご希望の場合は、
お気軽にサムテックのお問い合わせフォームに入力後に送信いただくか、もしくは info@sumtec.biz まで、メールにてお問い合わせ下さい。